Yohan Kim and SoYoung Kim
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작성자: 관리자 댓글: 0 조회수: 157 날짜: 2023-04-04본문
저자 : Yohan Kim and SoYoung Kim
논문명 : A Process-Aware Compact Model for GIDL-Assisted Erase Optimization of 3-D V-NAND Flash Memory
게재지 : IEEE Transactions on Electron Devices
게재정보 : vol. 70, no. 4
게재일자 : 202303
분류 : SCI
연구실 : ICDS
논문명 : A Process-Aware Compact Model for GIDL-Assisted Erase Optimization of 3-D V-NAND Flash Memory
게재지 : IEEE Transactions on Electron Devices
게재정보 : vol. 70, no. 4
게재일자 : 202303
분류 : SCI
연구실 : ICDS
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